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助力标准化进程,第五届表面分析技术应用论坛圆满落幕!

发布时间:2021/6/17 19:24:29  作者:  来源:

2021年6月3日,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会联合仪器信息网共同举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落幕!

本次会议以“标准化与表面分析技术”为主题,与“蔻享学术共享平台”合作实现同步转播,吸引了4000余人次观看,受到了广泛的关注!会议报告受到了参会网友的强烈反响,并通过在线互动,网友与报告专家进行了充分的学术交流,参会网友纷纷留言表示获益匪浅,干货满满。 

本届会议的报告嘉宾阵容空前强大,其中标准宣贯报告人全部来自表面化学分析标委会负责XPS标准研究的委员。会议特别邀请了清华大学李景虹院士、中国计量科学研究院李红梅研究员、中科院化学所赵江研究员、国家纳米中心朴玲钰研究员、吉林大学谢腾峰教授、清华大学李远副教授、清华大学姚文清高工、北京大学谢景林教授级高工、化学所刘芬副研究员、石油化工研究院邱丽美高工、化学所赵志娟高工、北京师范大学吴正龙教授级高工等12位表面分析领域大咖及2家仪器企业代表进行了报告分享,姚文清高工主持了会议。

原文链接:https://www.instrument.com.cn/news/20210604/582098.shtml 

来源:仪器信息网

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