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离子束分析装置及计算机多道(Tandetron)
离子束分析装置及计算机多道(Tandetron)
型号:GIC4117
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厂商:美国通用离子公司(General Ionex Corp.)
所在单位:北京师范大学分析测试中心   单位简介
  仪器介绍

  仪器简介

  GIC 4117 串列加速器有高能注入,PIXE 分析,RBS 分析和核反应四条应用束流线。高能注入靶室采用全机械扫描方式,有很好的注入均匀性。可以注入 H、B、 C、O、Al、Si 和 P 等元素,注入能量为 0. 4 到(N+1)× 1. 7 MeV(N 为注入元 素可剥离掉的外层电子数)。

  PIXE 分析装置可以完成多元素的非破坏性分析,与多极撞击式采样器结合可获得大气颗粒中个元素浓度的粒径分布谱,与时间序列采样器相结合可获得大气颗 粒物中个元素随时间的变化情况。分析灵敏度 0. 1 ppm~1 ppm,精度 10 %。此分 析项目和 RBS分析项目都通过了国家技术监督局和国家教育部的计量认证检查。

设备链接:http://202.112.94.180/atc/instrument/L2_Doc51_Tandetron_C.htm
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